32253808
9783642701788
M. Grasserbauer is the author of 'Angewandte Oberflchenanalyse mit SIMS Sekundr-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Rntgen-Photoelektronen-Spektrometrie (German Edition)', published 2011 under ISBN 9783642701788 and ISBN 3642701787.
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